DLT820-2002管道焊接接头超声波检验技术规程.pdf

'DL/T820一2002前官根据国家经济贸易委员会电力司电力〔2000122号文的要求，国电电力建设研究所组织电力行业内有关专家组成规范修订小组，对DL/I"5048-1995《电力建设施工及验收技术规范(管道焊接接头超声波检验篇)》进行了修订。本标准修订中参照了国标GB11345-1989《钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果的分级》和机械行业标准JB4730-1994《压力容器无损检测》。修订后的标准保留了原规范中经长期实践、行之有效的有关探伤工艺方面的条款。修订后的标准增加了“奥氏体中小径薄壁管焊接接头的检验”的内容。修订后的标准的适用范围将原规范的壁厚拓宽到160mmo本标准对管道焊接接头的超声波检测方法共分成了“中厚壁管焊接接头的检验”、“中小径薄壁管焊接接头的检验”和“奥氏体中小径薄壁管焊接接头的检验”三部分。本标准对管道焊接接头的超声波检测方法及检验结果的等级评定等做出了具体的规定，使管道焊接接头超声波检验工作的标准化更趋完善。本标准实施后替代DL/I"5048-19950本标准的附录A,附录B,附录C、附录D、附录E,附录G,附录H,附录I、附录J是标准的规范性附录。本标准的附录F为资料性附录。本标准由电力行业电站焊接标准化技术委员会提出并归口。本标准主要起草单位:国电电力建设研究所、江苏省电力试验研究所、黑龙江省电力科学研究院、华北电力科学研究院。本标准主要起草人:秦长荣、池永滨、于强、胡先龙、包乐庆。本标准由电力行业电站焊接标准化技术委员会负责解释。本标准首次发布时间:1983年、1995年第一次修订，本次为第二次修订。 DL/T820一202管道焊接接头超声波检验技术规程1范日1.1本标准规定了管道焊接接头的超声波检验方法及检验结果的等级评定。1.2本标准适用于电力行业制作、安装和检修设备时铁素体类钢制承压管道单面焊接双面成型的中厚壁管、中小径薄壁管和奥氏体中小径薄壁管焊接接头的手工A型脉冲反射法超声波检验。a)中厚壁管:外径大于或等于108m,壁厚大于或等于14m、小于等于160mob)中小径薄壁管:外径大于或等于32m、小于或等于159mm,壁厚大于或等于4m、小于14m,c)奥氏体中小径薄壁管:外径大于或等于32m、小于或等于159m,壁厚大于或等于4m,小于或等于8ma1.3本标准不适用于铸钢、壁厚大于8m奥氏体不锈钢等粗晶材料的焊接接头、内外径之比小于80%的中厚壁管管道纵向焊接接头超声波检验，也不适用于奥氏体和珠光体的异种钢焊接接头。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/r11345-1989钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果的分级GB/r12604.1无损检测术语超声检测DL/r675电力工业无损检测人员资格考核规则DL5007-1992电力建设施工及验收技术规范(火力发电厂焊接篇)DL5009.1电力建设安全工作规程(火力发电厂部分)JB/r9214A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法JB/r10061A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件JB/r10062超声探伤用探头性能测试方法JB/r10063超声探伤用1号标准试块技术条件3术语本标准所用术语除符合GB/r12604.1的规定外，还应符合下述规定:3.1时实采样频率factsamplingfrequency未经软件及其他技术处理的采样频率。3.2纵横波串列扫查longitudinaltransversewavetandemscan厚壁工件焊缝检验中，在焊缝的一侧采用纵波发射、横波接收的扫查方法。3.3纵向缺陷reflectorsorientedparalleltotheweld大致上平行于焊缝走向缺陷。3.4 DL/T820一2002横向缺陷reflectorsorientedtransversetotheweld大致上垂直于焊缝走向缺陷。4一般要求4.1人员检测人员应按DL/1"675规定，取得电力工业无损检测人员资格考核委员会颁发的技术等级资格证书，从事与该等级相应的无损检测工作，并承担相应的技术责任。4.2安全及工作环境超声波检验必须遵守DL5009.1的规定，当检验条件不符合本标准的工艺要求或不具备安全作业条件时，检验人员应停止工作，待条件改善符合要求后再行检验。4.3仪器和探头4.3.1仪器4.3.，.1超声波检验仪器的性能指标应符合JB/T10061的规定。4.3.1.2超声波检验仪器的性能测试方法应符合JB/r9214的规定。4.3.1.3工作频率范围至少为1MHz-6MHzo4.3.1.4对于全数字式A型脉冲反射式超声探伤仪器要求时实采样频率不小于40MHzo4.3.2探头4.3.2.1探头性能必须按JB/T10062《超声探伤用探头性能测试方法》进行测定。4.3.2.2斜探头置于标准试块上探测棱边，当反射波幅最大时，探头中心线与被测棱边的夹角应在90.士20的范围内。4.3.2.3斜探头主声束在垂直方向不应有明显的双峰或多峰。4.3.2.4探头的中心频率允许偏差为士0.5MHzo4.4组合的系统性能a)在达到所探工件最大检测声程时，其有效灵敏度余量不小于lOdB.b)仪器和探头的组合频率与公称频率误差在士10%之间。c)直探头的远场分辨力大于或等于30dB,斜探头的远场分辨力大于或等于6dBod)仪器和探头的组合系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试。4.5检验的要求4.5.1检验准备4.5.1.1检验前应了解管道名称、材质、规格、焊接工艺、热处理情况、坡口型式、内壁加工面情况，并进行焊接接头中心位置的标定。4.5.1.2焊接接头外观质量及外形尺寸需经检验合格。对有影响检验结果评定的表面形状突变应进行适当的修磨，并做圆滑过渡。内壁加工面应满足超声波检验的要求。4.5.1.3检验面探头移动区应清除焊接飞溅、锈蚀、氧化物及油垢，必要时，表面应打磨平滑，打磨宽度至少为探头移动范围。a)采用一次反射法或串列式扫查探测时，探头移动区应大于1.25PP=Z2tctg口R(1)式中:尸—跨距，rnm;r—管壁厚度，R—探头折射角b)采用直射法探测时，探头移动区应大于0.75P.4.5.1.4需要去除余高的焊缝.应将焊缝打磨到与邻近母材平齐。 〔瓜/T820一20024.5.2检骚区埋焊接接头检验区域的宽度应是焊缝本身再加上位，2焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域，这个区域最小1Ornm，最大20mm，见图104.5.3扫查速度探头的扫查速度不应超过150mm/s，当采用自动报誓装置扫查时不受此限制。4.5.4检脸筱益率探头的每次扫查筱盖率应大于探头直径的伞二少10%04.6试块4.6.1标准试块梭睦区均绝而标准试块CSK-1B的形状和尺寸见GB11345-1989的附录A，试块制造的技术要求应符合JB/1"10063的规定。图1检验区域4.6.2对比试块对比试块应选用与被检验管材相同或声学性能相近的钢材制作。4.7棍合荆韧合剂应具有良好的润湿能力和透声性能，且无霉、无腐蚀、易清除。4.8校准校准应在标准试块和对比试块上进行，校准中应使超声主声束垂直对准反射体的轴线。4.8.1仪器校准在仪器开始使用时，应对仪器的水平线性和垂直线性进行测定，测定方法按JB/1"10061的规定进行。在使用过程中，每隔三个月至少应进行一次测定。4.8.2探头校准在新探头开始使用时，应对探头进行一次全面的性能校准。测定方法按JB/T10062的有关规定进行。a)斜探头使用前，至少应进行前沿距离、折射角、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等的校准。使用过程中，每个工作日应校准前沿距离、折射角和主声束偏离。b)直探头的始脉冲占宽、灵敏度余量和分辨力应每隔一个月检查一次匕4.8.3仪器和探头系统的校验4.8.3.1每次检测前均应在对比试块或其他等效试块上对扫描线、灵敏度进行校验，校验过程中使用的试块与被检管件的温差不大于15C。遇有下述情况应随时对其进行重新核查:a)校准后的探头、藕合剂和仪器调节旋钮发生改变时;b)开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时;c)连续工作4h以上时;d)工作结束时。4.8.3.2时基调节校验时，如发现校验点反射波在扫描线上偏移超过原校验点刻度读数的10%或满刻度的5%(两者取较小值)，则扫描比例应重新调整，前次校验后已经检验的焊接接头要重新检验。4.8.3.3灵敏度校验时，如校验点的反射波幅比距离一波幅曲线降低20%或2dB以上，则仪器灵敏度应重新调整，并应重新检验前次校验后检查的全部焊接接头。如校验点的反射波幅比距离一波幅曲线增加20%或2dB以上，则仪器灵敏度应重新调整，对前次校验后已经记录的缺陷进行尺寸参数重新测定 DL/T820一202并予以评定。4.8.3.4距离一波幅曲线复核时，校核应不少于3点。如曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次所有的检测结果进行复检;如幅度上升2dB，则应对所有的记录信号进行重新评定。4.8.3.5校准、复核和线性检验时，任何影响仪器线性的控制器(如抑制或滤波开关等)都应放在“关”的位置或处于最低水平上。4.9检验工艺应针对具体焊接接头或被检验焊接接头种类制订检验工艺。下列情况和说明应包括在检验工艺中，并以文件形式提供给操作人员:a)检验等级;b)材料的种类;c)检验的时机;d)接头坡口形式;e)焊接工艺;f)表面状态及灵敏度补偿;9)祸合剂;h)仪器型号;1)探头及扫查方式;j)灵敏度;k)试块;1)缺陷位置标定方法;m)报告要求;n)验收标准;o)操作人员资格。4.10记录每次检验应做原始记录，记录内容至少包括下列资料:a)被检验工件的名称和焊缝的编号;b)采用的工艺文件;c)可记录缺陷的详细情况:包括缺陷的幅度、位参数、尺寸参数;d)检验人员的姓名和签字，检验的时间和地点。4.们评定对检验的结果必须进行等级评定。4.12报告检验报告至少应包括以下内容:a)委托单位、报告编号;b)工件名称、编号、材料种类、热处理状态、检测表面的粗糙度;c)探伤仪、探头、试块和检测灵敏度;d)超声检测区域应在草图上予以标明，如有因几何形状限制而检测不到的部位，也应加以说明;e)缺陷的类型、尺寸、位置和分布;f)检脸结果、缺陷等级评定及枪验标准名称;9)检验人员和责任人员签字及其技术资格;h)检验日期。 DL/T820一20025中厚壁管焊接接头的检脸5.1试块5.1.1对比试块5.1.1.1校准时基线性应采用GB11345-1989附录B的RB系列对比试块。5.1.1.2现场检验时，为校验灵敏度和时基线性，可采用附录A所示的SD-IV试块。5.1.1.3当检验面曲率半径R<妒/4时(W为探头接触面宽度，R,W单位均为mm)，应采用与检验面曲率相同或相近的对比试块。反射体的布置可参照对比试块确定，试块的宽度应满足下式6》2x(S/DQ)(2)式中:b—试块宽度，mm;a—波长，mm;S—声程，nun;D,—声源有效直径，二。5.1.1.4月牙槽对比试块。焊接接头根部未焊透的对比测定采用附录B所示的SD-m月牙槽对比试块，该试块应用被检管材制作。5.1.1.5在满足本节要求的条件下，可以采用其他型式的试块，并在报告中注明。5.2检脸等级5.2.1检脸等级的分级根据不同焊接接头质量要求，检验等级分为A,B,C三级，检验的完善程度A级最低，B级一般，C级最高。应按照工件的材质、结构、焊接方法、使用条件及承受载荷的不同，合理地选用检验级别。检验等级应按产品技术条件和有关规定选择或经订约双方协商选定。对于给出的三个检验等级的检验条件，为避免焊件的几何形状限制相应等级检验的有效性，设计、工艺人员应在考虑超声波检验可行性的基础上进行结构设计和工艺安排。检验时遇到非标准化的条件而不能满足相应等级检验的扫查要求时，应对扫查进行修正，使之至少达到等效的彼盖水平，并在检验报告中注明。5.2.2检验等级的检验范困5.2.2.1A级检验采用一种角度的探头在焊缝的单面单侧进行检验，只对允许扫查到的焊缝截面进行探侧。一般不要求进行横向缺陷的检验。母材厚度大于SOmm时，不得采用A级检验。5.2.2.2B级检验原则上采用一种角度的探头在焊缝的单面双侧进行检验，对整个焊缝截面进行探测。对检测中出现异常现象，或有检验要求的焊缝两侧斜探头扫查经过的母材部分要用直探头检查。条件允许(外径大于250mm)时，应在焊缝两侧进行横向缺陷检验的斜平行扫查。5.2.2.3C级检验至少要采用两种角度探头在焊缝的单面双侧进行检验。同时要将对接焊缝余高磨平，进行两个扫查方向和两种探头角度横向缺陷检验的平行扫查。焊缝两侧斜探头扫查经过的母材部分要用直探头进行检查。5.2.2.4焊缝母材厚度大于等于60mrn的C级检验，或B级检验有要求时，应增加串列式扫查或纵横波申列式扫查，串列式扫查方法参见(iB11345-1989附录C，纵横波申列式扫查方法见附录Ca5.3检验准备5.3.1检验面除满足4.5.2条规定外，应按不同检验等级要求选择检验面。推荐的检验面见图2、表10 DL/T820一2002位t--检份，长，----圈2侧和面检验面及推荐使用探头折射角夕检验面管壁厚度检验方法使用探头的折射角RAB0砂14mm-25-直射法及一次70`单面单侧>25mm-50m单面双侧反射法70.或60"单面双侧>50m1--l00mm无A级和焊缝表面450或600;450和600,45和70.并用直射法>100mm--160mm无A级45.和60。并用或45.和70。并用无法进行单面双侧扫查时，可采用两种以上折射角的探头在焊缝一侧进行探侧。b探测焊缝根部缺陷时，不宜使用折射角为60.左右的探头。5.3.2探头的选择5.3.2.1频率。探头频率一般在2MHz-5MHz范围内选择，推荐选用2MHz-2.5MHz探头。在保证系统灵敏度的情况下，可以采用其他频率的探头。5.3.2.2角度。斜探头的折射角月应依据管壁厚度、焊缝坡口型式及预期探侧的主要缺陷种类来选择。对不同管壁厚度焊接接头推荐使用的探头角度和数量见表toa)横波串列式扫查，推荐选用标称折射角均为45。的两个探头，两个探头实际折射角相差不应超过20，探头前沿长度相差应小于2mm。为了便于探测厚焊缝坡口边缘未熔合缺陷，亦可选用两个不同角度的探头，但两个探头角度均应在350-45"范围内。b)纵横波串列式扫查，横波探头选用标称折射角为56%5.3.2.3探头的晶片尺寸的选择要保证系统灵敏度。a)斜探头斜探头的晶片尺寸原则上如表2所示，但是用于串列式扫查探头的晶片尺寸不受表2限制。表2斜探头的频率和晶片尺寸表3直探头的频率和晶片有效直径-一一A率1晶片尺寸}}颇率{晶片有效直径}MQ-Iz(2.5MHz20mm,25mm,30-M5MHHzz(2(4.SMMHHzz))1lOommmxx1lOmnuma-2104mmmxx2l04mm5M1七(4H.)10-20-b)直探头直探头的晶片尺寸作为圆形晶片其有效直径原则上如表3所示。5.3.2.4探头与检验面应紧密接触，当检验面曲率半径R毛Wz/4时，探头楔块应进行修磨，并使其与检验面相吻合。修磨后的探头应重新测定人射点及折射角。5.3.3母材的检验5.3.3.1焊缝两侧的母材，检验前应测量管壁厚度，至少每隔900测量一点，并做好记录，以便检验 DL/T820一2002时参考。5.3.3.2采用B级、C级检验时，斜探头扫查声束通过的母材区域应用直探头进行检查，以便确定是否有影响斜角检验结果解释的分层性或其他种类缺陷存在。该项检查仅做记录，不属于对母材的验收检验。检查的要点如下:a)方法:接触式脉冲反射法，采用频率为2MHz-5MHz的直探头;b)灵敏度:将无缺陷处二次底波调节到荧光屏满刻度;c)记录:凡缺陷信号超过荧光屏满刻度20%的幅度部位，应在工件表面做出标记，并予以记录。5.3.4仪器调整5.3.4.1时基线扫描的调节。时基线刻度可按比例调节为代表脉冲回波的水平距离、深度或声程。扫描比例依据管件厚度和选用的探头角度来确定，最大检验范围应调至时基线满刻度60%以上。5.3.4.2检验面曲率半径R大于妒/4时，应在标准试块或平面对比试块上，进行时基线扫描调节。5.3.4.3检验面曲率半径R小于等于W2/4时，在5.1.1.3条规定的对比试块上，进行时基线扫描调节。5.3.5距离一波幅曲线的测绘5.3.5.1距离一波幅曲线应以所用探伤仪和探头在!__一_{{对比试块上实测的数据绘制，其绘制方法见附录Do提「-一一_一___翻一__二互二1二_)该曲线由判废线RL、定量线SL和评定线EL组成。感月--一)ll-下天1EL和SL之间称I区，SL和RL之间称I区，RL以上称lu区，如图3所示。_人_圣璧_圣叹ISit(RL))一5.3.5.2不同检验等级、管壁厚度的距离一波幅曲刃之二淤MN(SL)线各线灵敏度见表40一又咬一福(EL)5.3.5.3探测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高lB106dBo距离四m5.3.5.4检验面曲率半径R(WZ/4时，距离一波幅圈3距离一波幅曲线曲线的绘制应在5.1.1.3条规定的对比试块上进行。5.3.5.5探测时由于管件表面韧合损失、材料衰减以及内外曲率的影响，应对检验灵敏度进行传输损失综合补偿，综合补偿量必须计人距离一波幅曲线。补偿的测量方法见附录E。若在一个跨距声程内最大传输损失在2dB内，可不进行综合补偿。裹4距离一波临曲线的灵敏度检验级别ABC管壁厚度14mm-50-14mm-160mm14mm-160=判废线RL$3x4003x40-4cB03x40-2c旧定量线SL03x40-lOdB妇x40-10dB03x40-8dB评定线EL03x40-16clB妇x40-16dB03x40-14dB5.3.5.6距离一波幅曲线可绘制在坐标纸上，也可直接绘制在荧光屏刻度板上。但在整个检验范围内，曲线应处于荧光屏满刻度20%以上，见图4，否则，应采用分段绘制的方法，见图505.3.6仪器的校验按4.8.3规定对仪器进行校验。5.4检验方法5.4.1一般要求扫查灵敏度应不低于评定线(EL线)灵敏度。 DL/T820一2002砚60丫瓜万一万_一_一_二一_一_欲{{下丈一一_一_，黔-1-一i月(’.’._一一〔__一日片气一20%---一}kl一五画，一⋯⋯r⋯甲一’甲’一~，一1r}z二一-一一-{{{。f,离x.m.1010口翻刀m圈4距离一波妇曲线板的范图图5分段距离一波幅曲线5.4.2扫查方式5.4.2.1为了探测焊接接头的纵向缺陷，一般采用斜探头垂直于焊缝中心线放置在检验面上，沿焊接︺宙接头进行矩形移动扫查，见图6。探头前后移动的距离应保证扫查到口宙4.5.2条规定的焊接接头检验区域宽度全部范围。扫查时相邻两次探头移动间隔应保证至少有10%的重叠。在保持探头垂直焊缝中心线进行前后移动的同时，根据曲率大小还应进行100-15.角的左右摆V动。招动的1少_15"5.4.2.2为探测焊接接头的横向缺陷，可采用平行或斜平行扫查。5.4.2.3B级检验时，当管外径大于250xnm时，可在焊缝两侧边缘图6矩形移动扫查使探头与焊缝中心线呈100-200角做斜平行扫查，见图705.4.2.4C级检验时。可将探头放在焊缝上及其两侧边缘做平行扫查，见图8。管壁厚度超过60mm时，应采用两种角度探头(45.和60.并用或450和70"并用)进行两个方向的平行扫查，也可用两个450探头进行串列式平行扫查。钩二二二;33)333四二二士图7斜平行扫查圈8平行扫查5.4.2.5为了确定缺陷的位置、方向、形状，观察缺陷动态波形或区分缺陷信号与非缺陷信号，可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式，见图9,5.4.3焊接接头的检脸5.4.3.1环向对接接头5.4.3.1.1应按5.1条的规定选用对比试块，并采用5.4.2条的扫查方式进行检验。5.4.3.1.2对比试块的曲率半径为检验面曲率半径0.9--1.5倍的试块均可采用。5.4.3.2纵向对接接头5.4.3.2.1应按5.1条的规定选用对比试块，并采用5.4.2条的扫查方式进行检验。5.4.3.2.2对比试块的曲率半径与检验面曲率半径之差应小于10%05.4.3.2.3根据管件的曲率和壁厚选择探头角度，并考虑几何临界角的限制。条件允许时，声束在曲底面的人射角不应超过70% DL/T820一2002左右图9四种探头墓本扫查方式5.4.3.2.4探头接触面修磨后，用曲面试块实际测定探头人射点和折射角。5.4.3.2.5当检验面曲率半径R>WZ/4，采用平面对比试块调节仪器时，检验中应及时修正缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异，修正方法参照GB11345相关章节。5.4.4反射回波的分析对波幅超过评定线(EL线)的反射回波〔或波幅虽然未超过评定线(EL线)，但有一定长度范围的来自焊接接头被检区域的反射回波〕，应根据探头位置、方向、反射波的位置及焊接接头的具体情况，参照附录F进行分析，判断其是否为缺陷。判断为缺陷的部位均应在焊接接头表面做出标记。5.4.5缺陷对在焊接接头检验扫查过程中被标记的部位进行检验，将扫查灵敏度调节到评定线，对反射幅度超过定量线的缺陷，均应确定其具体位置、最大反射波幅度及其所在区域和指示长度。5.4.5.1最大反射波幅度的测定a)按5.4.2的扫查方式移动探头至缺陷出现最大反射波信号的位置，测出最大反射回波幅度并与距离一波幅曲线比较，确定波幅所在区域。波幅测定的允许误差为2dBob)最大反射波幅度A与定量线SL的dB差值记为SL士()dB.5.4.5.2位置参数的测定。缺陷位置以获得缺陷最大反射波信号的位置来表示，根据探头的相应位置和反射波在荧光屏上的位置来确定如下位置参数:a)缺陷沿焊接接头方向的位置。b)缺陷位置到检验面的垂直距离(即深度)。c)缺陷位置离开焊缝中心的距离。5.4.5.3缺陷尺寸参数的测定应根据缺陷最大反射波幅度确定缺陷当量值0或测定缺陷指示长度△to5.4.5.3.1缺陷当量值。，用当量平底孔直径表示，主要用于直探头检验，可采用公式计算、DGS曲线、试块对比或当量计算尺确定缺陷当量值。5.4.5.3.2缺陷指示长度△l的测定可采用如下三种方法。a)当缺陷反射波信号只有一个高点时，用降低6dB相对灵敏度法测量缺陷的指示长度，图10相对灵敏度法见图100在测长扫查过程中，当缺陷反射波信号起伏变化有多个高点，缺陷端部反射波幅度位于SL线或n区时，则以缺陷两端反射波极大值之间探头的移动距离确定为缺陷的指示长度，即端点峰值法，见图11,当缺陷反射波峰位于工区时，如认为有必要记录，将探头左右移动。使波幅降到评定线，以 DL/T820一2002此测定缺陷指示长度。5.4.6缺陷评定5.4.6.1对波幅超过评定线(EL线)的反射波或波幅虽然未超过评定线(EL线)，但有一定长度范围的来自焊接接头被检区域的反射回波，均应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷的特征。可根据缺陷反射波信号的特征、部位、采用动态包络线波形分析法，改变探测方向或扫查方式，并结合焊接工艺等进行综合分图”端点峰值法析来推断缺陷性质。如无法准确判断时，应辅以其他检验进行综合判定。5.4.6.2最大反射波幅度位于I区的缺陷，其指示长度小于1Omm时，按5mm计。5.4.6.3相邻两缺陷各向间距小于8tnm时，两缺陷指示长度之和作为单个缺陷的指示长度。5.4.6.4根部未焊透的测定。对于允许存在一定尺寸根部未焊透焊接接头应进行根部未焊透的测定。5.4.6.4.1检验中发现的根部缺陷经综合分析确认为未焊透时，应选用高分辨率、折射角45。一500,频率为5MHz的横波斜探头。用附录B的月牙槽对比试块上深1.5tnm的月牙槽反射波幅调至荧光屏满刻度50%作为灵敏度，进行幅度对比测定。5.4.6.4.2当缺陷反射波幅度小于月牙槽对比试块调节的灵敏度反射波幅度时，用端点14dB法测量其指示长度Lo5.5检验结果的评级5.5.1评定单位管道焊接接头质量以每个焊接接头为评定单位，当量数计算按DL5007规定。5.5.2记录非裂纹、未熔合等缺陷反射波幅度达到EL线或在I区时，如无特殊要求，可不做记录。5.5.3缺陷的级别评定根据缺陷的性质、幅度、指示长度分为四级:5.5.3.1最大反射波幅度达到SL线或1区的缺陷，根据缺陷指示长度按表5的规定予以评级。5.5.3.2对接焊缝允许存在一定尺寸根部未焊透缺陷，根据其反射波幅度及指示长度按表6的规定予以评级。5.5.3.3性质为裂纹、未熔合、根部未焊透(不允许存在未焊透的焊缝)评定为1V级。5.5.3.4反射波幅度位于RL线或1区的缺陷评定为1V级。5.5.3.5最大反射波幅度不超过EL线，和反射波幅度位于I区的非裂纹、未熔合、根部未焊透性质的缺陷，评定为工级。衰5单个缺陷的等级分类卜~--*Z707901ABC~孟辱扩缨、14mm-50mm14mm--160mm14mm-160mmI2/3t,最小12mmt/3,最小lomm,最大30mmt/3,最刁、lo-,最大20mmQ3/4t,最小12mm2/3t,最小12mm,最大50mmt/2,最小lomm,最大30mm班‘5.5mm-7.5mm1.5mmx2mm>7.5mm-8mm2-x2mm图18短槽试块7.2检验准备除满足4.5.2条规定外，应符合下列要求。7.2.1检验面检验面打磨宽度应不少于70mmo7.2.2焊缝的余离修磨按照6.2.2条规定执行。7.2.3仪器按照6.2.3条规定执行。7.2.4探头的选择选用的探头直射波扫查时，应按图12所示，扫查到焊接接头1/4以上壁厚范围。7.2.4.1颇率。探头频率宜采用4MHz或5MHzo7.2.4.2角度。斜探头的折射角夕应依据管壁厚度来选择。对不同管壁厚度焊接接头推荐使用的探头，折射角p为730-70007.2.4.3探头晶片尺寸。在保证晶片面积不大于36m2的前提下，推荐探头晶片尺寸选用6mmx1)密集性缺陷指在扫查灵敏度下荧光屏有效声程范围内同时有2个或2个以上的缺陷反射信号。14 DL/T820一`0026mm或朽mm.7.2.4.4探头前沿。探头前沿应小于或等于5mmo7.2.4.5始脉冲占宽。按照6.2.4.5规定。7.2.4.6探头分辨力。按照6.2.4.6规定。7.2.4.7探头与检验面应紧密接触，如图13所示间隙X不应大于0.5mm，若不能满足，应进行修磨，修磨的要求和方法见附录Ho7.2.5母材的测厚按照6.2.5条规定。7.2.6报合剂按照6.2.6规定。7.3仪器调整和校验7.3.1探头参数及性能的测定7.3.1.1在DL-1型专用试块上测定探头的前沿、始脉冲占宽和探头分辨力，测量方法见附录107.3.1.2折射角在短槽试块上测定。7.3.2时甚线扫描的调节在短槽试块上调节时基线，将探头置于管子试块外表面上，分别用直射波和一次反射波探测内外表面的短槽，将其反射波调整到相应的位置，即完成扫描速度调整。7.3.3DAC曲线的绘制DAC曲线应以所用探伤仪和探头在短槽试块实测的数据绘制。将探头置于管子短槽试块的外表面，分别用直射波和一次反厂-------一一一一-，射波探测试块内外表面的短槽，调节衰减器使直射波回波声压达。仪器屏幕满幅的80%。在此状态下找出一次反射波的最大回波，如图19所示，画两条直线即为DAC曲线。7.3.4仪器调整的校验按照6.3.4条规定执行。7.4检验方法7.4.1扫查方式图19DAC曲线示宜圈按5.4.2的要求在焊缝的两侧进行扫查，但不做10，一15’角的左右摆动;移动范围如图15所示。7.4.2检验7.4.2.1扫查灵敏度为DAC曲线。7.4.2.2应按7.4.1扫杳方式进行检验。7.4.2.3反射回波的分析。对波幅超过DAC的反射波(或波幅虽然未超过DAC的反射波，但有一定长度范围的来自焊接接头被检区域的反射回波)，应根据探头位置、方向、反射波的位置及焊接接头的具体情况，参照附录F，分析判断其是否为缺陷。判断为缺陷的部位均应在焊接接头表面做出标记。7.4.3缺陷对在焊接接头检验、扫查过程中被标记的部位进行检验并确定其具体位置、最大反射波幅度和指示长度。7.4.4评定缺陷根据焊接接头存在缺陷类型、缺陷波幅的大小以及缺陷的指示长度，缺陷评定为允许存在和不允许存在两类。7.4.4.1不允许存在的缺陷:a)性质判定为裂纹、坡口未熔合、层间未熔合及密集性缺陷者; DL/T820一2D02b)单个缺陷回波幅度大于或等于DAC+4dB者;c)单个缺陷回波幅度大于或等于DAC，且指示长度大于Sln者。7.4.4.2允许存在的缺陷:单个缺陷回波幅度小于1〕AC+4dB，且指示长度小于或等于Slnm者。 DL/T820一2002附录A【规范性附最)携带式试块现场使用的携带式试块可根据甜要选择，图A.1所示为可供选用的携带式试块。xl=厂/50R740圈A.1SD-N型试块 DL/T820一2002附录胜《规范性附浪》焊接接头根部缺陷对比试块SSD-爪型对比试块，用于管道焊接接头根部缺陷的对比测定，型式见图B.1。1.s+01二萝欲全娜。滋舟舜尸150注:t-管壁厚度，由被检验材料厚度确定。圈B.，5压皿型对比试块 DL/T820一2002附录C(规范性附录》纵横波申列扫查检脸方法C.1仪目和探头a)超声波探伤仪的工作方式必须具备一发一收工作状态。b)为保证一发一收探头相对于申列基准线经常保持等距离移动，应配备适宜的探头夹具，夹具应适用于横方型及纵方型两种扫查方式。c)纵波探头和横波探头的频率必须相同，推荐采用2.5MHz或5MHzed)横波探头折射角560探头，纵波探头晶片尺寸采用014mm或020mm,C.2仪器调盆C.21时基线扫描的调节时基线扫描的调节采用折射角56。单横波探头，按5.3.4条的方法进行单声程调节。C.22灵敏度调效8圈C.1灵敏度调效在图C.1所示的试块上，将用于发射的纵波探头置于线切割面正上方，然后在线切割面法线方向平行移动接收的横波探头找到最大反射波，调节增益使反射波幅为荧光屏满幅高度的40%，并以此基准波高作为扫查灵敏度。C.3检脸程序C.3.1检脸准备a)检验面为对接焊缝的单面双侧。b)去除焊缝的余高，将焊缝打磨到与邻近母材平齐。C.3.2检脸C.3.2.1扫查方式图C.2所示纵波探头放在管件焊缝的熔合面上方，横波探头放在同一探测面上与焊缝的熔合面垂直线方向前后移动，并采用横方形或纵方形串列扫查，扫查整个焊缝熔合线。C.3.2.2缺陷反射波幅达到或超过荧光屏满幅高度40%时判定为缺陷，应在焊缝的相应位置做出标记。C.3.3缺陷位置今橄侧定C.3.3.1缺陷的深度其反射波均出现在相当于半路距声程位置，在荧光屏直接读出缺陷的深度。19 DL/T820一2002圈C.2扫查方式C.3.3.2缺陷指示长度的侧足缺陷指示长度采用5.4.5.3.2a)的测定方法进行测定。C.4缺陷评定反射波幅达到或超过荧光屏满幅高度40%时，判定为未熔合或裂纹。 DL/T820一2002附录D‘规范性附最)距离一波幅(DAC)曲雌的制作D.1试块a)采用〔;B11345-1989附录B的RB系列对比试块或其他等效形式试块绘制DAC曲线。b)R小于W2/4时，应采用检验面曲率与工件检验面曲率相同或相近的对比试块。D.2绘制步骤DAC曲线可绘制在坐标纸上(称DAC曲线)，亦可直接绘制在荧光屏前透明的刻度板上(称DAC曲线板)。D.2.1DAC曲线的绘制步辣如下:a)将测试范围调整到检验使用的最大探测范围，并按深度、水平或声程法调整时基线扫描比例;b)根据工件厚度和曲率选择合适的对比试块，选取试块上孔深与检验深度相同或接近的横孔为第一基准孔，将探头置于试块检验面声束指向该孔，调节探头位置找到横孔的最高反射波;c)调节“增益”或“衰减器”，使该反射波幅为荧光屏上某一高度(例如满幅的40%)，该波高即为“基准波高”，此时，灵敏度余量为lOdB;d)调节衰减器，依次探测其他横孔，并找到最大反射波高，分别记录各反射波的相对波幅值(dB);e)以波幅(dB)为纵坐标，以探测距离(声程、深度或水平距离)为横坐标，将c,d记录数值描绘在坐标纸上;f)将标记各点连成圆滑曲线，并延长到整个探测范围，最近探测点到探测距离0点间画水平线，该曲线即为DAC曲线的基准线;9)依据表4规定的各线灵敏度，在基准线下分别绘出判废线、定量线、评定线，标记波幅的分区;h)为便于现场检验校验灵敏度，在测试上述数据的同时，可对现场使用的便携试块上的某一参考反射体进行同样测量，记录其反射波位置和反射波幅(dB)，并标记在DAC曲线图上。D.2.2DAC曲线板的绘制步获如下:a)同D.2.1条a)ob)依据工件厚度和曲率选择合适的对比试块，在试块上所有孔深小于等于探测深度的孔中，选取能产生最大反射波幅的横孔为第一基准孔。c)调节“增益”使该孔的反射波为荧光屏满幅高度的80%，将其峰值标记在荧光屏前辅助面板上。依次探测其他横孔，并找到最大反射波高，分别将峰值点标记在辅助面板上。如果做分段绘制，可调节衰减器分段绘制曲线。d)将各标记点连成圆滑曲线，并延伸到整个探测范围，该曲线即为DAC曲线基准线。e)依据表4规定的灵敏度，分别绘出定量线、评定线和判废线。f)在做上述测试的同时，可对现场使用的便携式试块上的某一参考反射体做同样测量，并将其反射波位置和峰值标记在曲线板上，以便现场进行灵敏度校验。 DL/T820一2002附录E(规范性附录》补偿量侧量E.1试块E.1.1制作与被探管道的材质、规格及表面粗糙度相同的试块(见图E.1).E.1.2在试块上钻"3mmx40mm横孔，当管壁厚度小于或等于25mm时，钻一个孔，距内壁tit(见图E.1);当管壁厚度大于25mm时，钻两个孔，距内壁分别为t/4和3t/4(见图E.2).03.40图E.1率卜偿量测定试块E.2测量方法E.2.1以所用的仪器和探头在RB系列对比试块上测绘出距离一波幅曲线。E.2.2相同的仪器和探头，在相同的起始灵敏度条件下探测试块上幻mmx40mm横孔，直射波探下孔，一次反射波探上孔(图E.2).注:尺寸公差士0.1，各边垂直度不大于0.1，表面粗糙度不大于6.3ym,标准孔加工面的平行度不大于0.050圈E.2争卜偿量侧定试块如试块只有一个孔，均探同一横孔(图E.1);将波幅调至规定的高度，然后读取衰减器的分贝数NoE.2.3在距离一波幅曲线上查出同距离的分贝数N"，则综合补偿量ON由下式决定AN=N一N"(dB) DL/T820一2002附录F(资料性附录)反射回波分析口丁:图F.t符合要求的爆缝根部口·二注:反射回波较小.注:反射回波较小。口丁图F.2根部内凹田不图F.3焊摘」田图F.4根部未焊透 DL/T820一2002田「圈F.5焊缝根部中心线裂纹田口rr+x了xr图F.6焊缝边缘未熔合注:探头前后左右移动时反射波交替上升。图F.7密集缺陷图F.8错边 DL/T820一2002口注:两侧同时探侧水平定位在焊缝中心远离探头一侧为伪缺陷。图F.9伪缺陷印/如IEF.10根部咬边 DL/T820一2002附录G(规范性附录)小径管焊接接头超声波检验专用试块DL-1小径管焊接接头超声波检验专用试块，如图G.1所示。试块一套共5块，其适用范围如表G.1所示，其材质、表面状态要求同4.6条的要求。表G.1专用试块的适用范围试块编号R1适用管径，的范围}R2适用管径乒的范围116-32--35-}17.5-35--38-219-38--41-}20.5-41=-44.5=322.5-44.5--48=一}24-48--60-430-60=-76-}38=76--79-550-90--133=一70-133--159-注:尺寸公差士0.1，各边垂直度不大于。.1，表面粗糙度不大于6.31un,标准孔加工面的平行度不大于0.050图G.1小径管焊接接头超声波检验专用试块 DL/T820一2002附录H《规范性附录)探头修磨的方法和要求当检验管子的外径小于159mm时，要求探头接触面符合管子表面的弧度。在加工该探头的表面时，须注意以下几点:a)探头上的波束发射区域必须与管子贴合(见图H.1).b)探头与管子接触部位的边缘其间隙(X)不应大于0.5mm(见图H.1)oc)修磨时不能过度地磨损探头的接触面。d)对于修磨量大的探头建议粘上一层底板(3mm厚，与探头楔块相同材质的板材)，用树脂粘合剂粘结，然后修磨板材使之与管于弧度相符。e)须仔细粘结，使底板粘结于探头上，粘合层中不得留有汽泡。f)在粘加底板并修磨至与管子弧度相符合后，探头须满足以下要求:—探头中心轴线与波束的轴线相吻合;—波束角度须在规定的公差内;—探头的灵敏度由于粘加底板和修磨而受到的影响不应大于2dB;—当扫查灵谭度一定时，在起始的脉冲信号之后，由底板产生的虚假回波不应大于满屏的10%0图H.1探头接触面边缘与管子外表面的间隙示意图 DL/T820一2002附录I《规范性附录)中小径薄壁管裸头今救及性能的测定I，探头前沿(声束入射点)测定将探头置于试块D1,1上图1.1所示位置，找出R50(R30)圆弧面回波的最高点，此时探头上与DL-1型试块侧面‘,0,，点对应的点，即为探头人射点。人射点到探头前端的距离"A”即为前沿距离。图I.1探头前沿(声束入射点)测定示惫圈I.2探头折射甭测定利用DLI型试块上，深度h=5mm的O1mm通孔进行测定，将探头试块上如图1.2位置，找出h二5rrnn,似二通孑噬大回波，测创:探头前端至似二通孔距离L，则探头折射角P=-te[(L+A)/5]图1.2探头折射角测定示意图1.3始杂波占宽测定在DL-1试块上深度h=5nun,似二通孔，最大反射波高达到荧光屏满刻度80%时，增益lOaa后的始杂波宽度。1.4分辨力测定将探头置于DL-1试块上探测药、似0两同心孔，见图1.3，使两孔的反射波高度相同，并调至垂直刻度的40"%，记下此时的衰减器的读数D,;然后调节衰减器使师、币10两孔反射波之间的波O谷上升到原波峰高度，记下衰减器的读数DZ，则分辨力x为图I3分辨力测定示意图x二D:一D,(dB) DL/T820一2002附录J(规范性附录}中小径薄盛管时甚线扫描的调节采用模拟式的A型脉冲反射式超声波探伤仪时，推荐用图7.1专用面板。叹即604020圈Jl时基线扫描的调节专用面板利用DL-1标定试块调节时基线扫描方法如下:a)将专用面板置于仪器监视屏前(或利用原面板)。b)选择与被检验管子外径相适合的对比试块。c)将符合6.2.5条规定的探头置于DL1试块合适的位置，根据被检验管子的厚度选择两个不同深度的价lmm通孔，按深度一定比例调节时基线。保证检验时一次反射波的标记点在荧光屏时基线刻度的lit以后，同时在屏幕上绘制DAC曲线。'